簡要描述：X熒光鍍層測厚儀EDX，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，可盲測（即：無需標準樣品標定），即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析，降低客戶購買標準樣品（尤其是特殊樣品）成本。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

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